日本ae-mic高精度數(shù)字電阻檢查器AE-163L

產(chǎn)品型號：

所屬分類：其他設(shè)備

產(chǎn)品時間：2024-09-08

簡要描述：日本ae-mic高精度數(shù)字電阻檢查器AE-163L ?
超小尺寸芯片（0 2 0 1，0 3 0 1 5 ...）
兼容精密級電阻器！
B，C，D，F(xiàn)，G，J，K級，芯片，熔爐，徑向，軸向電阻分選機和編帶機的理想選擇

詳細說明：

日本ae-mic高精度數(shù)字電阻檢查器AE-163L ?

超小尺寸芯片（0 2 0 1，0 3 0 1 5 ...）
兼容精密級電阻器！
B，C，D，F(xiàn)，G，J，K級，芯片，熔爐，徑向，軸向電阻分選機和編帶機的理想選擇

特性

校準后90天[校準后1年：兩倍]的測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

日本ae-mic高精度數(shù)字電阻檢查器AE-163L ??

測量范圍	標準值設(shè)定范圍	實測電流	測量精度^*
測量范圍	標準值設(shè)定范圍	實測電流	慢 [高分辨率]	慢 [低分辨率]	快速 [Lo-Reso。]
100毫歐	5mΩ-100mΩ	180毫安	±0.01％±α±10d以內(nèi)	在±0.02％±α±2d之內(nèi)	≤±0.03％±2α±3d±[2 /（1 + n）] d
1Ω	100.1mΩ?1Ω	90毫安	≤±0.006％±2β±3	±0.02％±α±1d以內(nèi)	在±0.02％α±2d±[2 /（1 + n）] d之內(nèi)
10Ω	1.001Ω?10Ω	9毫安	≤±0.006％±2β±3	±0.02％±α±1d以內(nèi)	在±0.02％α±2d±[2 /（1 + n）] d之內(nèi)
100Ω	10.01Ω-100Ω	9毫安	±0.005％±3d以內(nèi)	±0.02％±1d以內(nèi)	在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
1kΩ	100.1Ω?1kΩ	0.9毫安
10kΩ的	1.001kΩ?10kΩ	0.45毫安
100kΩ的	10.01kΩ-100kΩ	45微安
1兆歐	100.1kΩ?1MΩ	4.5微安	在±0.009％±3d之內(nèi)		在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
10兆歐	1.001MΩ?10MΩ	0.45微安	±0.02％±10d以內(nèi)	±0.03％±1d以內(nèi)	在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
100兆歐	10.01MΩ-100MΩ	45nA	±0.1％±20d以內(nèi)	±0.1％±2d以內(nèi)	---

* D：數(shù)字，n：積分時間（毫秒），應(yīng)用Lo-Reso。測量值時（加±1d）當
測量百分比時：α=（100 /標準設(shè)置值mΩ）x 0.01％，
當測量值時，β=（范圍/標準設(shè)置值）x 0.001％：α，β= 0
**屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速	慢	快速
	AC1周期+ 7.5 毫秒?408毫秒	大約11.5 毫秒?408毫秒	約5次/秒? 約2次/秒	約10次/秒? 約2次/秒

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